Emulatoren, Debugger |

JTAG/Boundary-Scan-Controller

Bild: Göpel Electronic
Über acht Test Access Ports lassen sich Test-, Debug- und Programmieroperationen synchron ausführen

Göpel Electronic hat die neue Generation modularer JTAG/Boundary-Scan-Controller Scanflex II Cube präsentiert. Basierend auf modernen Multicore-Prozessoren und FPGAs eröffnet das System neue Wege zur Unterstützung der Embedded JTAG Solutions. Dabei handelt es sich um eine Test- und Validierungsmethodik, mit der Embedded Instruments komplexe Boards testet und programmiert. Daraus resultiert eine hohe Testtiefe bei geringerem Einsatz externer Testhardware.

Dank der multifunktionalen Architektur der Scanflex II Cube kann der Anwender zahlreiche Technologien auf nur einer Plattform kombinieren. Boards lassen sich ohne den Einsatz von Nadeln testen und das Embedded Programming erübrigt externe Programmer. Über acht unabhängige, echt parallele Test Access Ports (TAP) für bis zu 100 MHz lassen sich Test-, Debug- und Programmieroperationen via Embedded JTAG Solutions (Boundary Scan, Prozessor Emulation, Chip Embedded Instruments) synchron ausführen. Scanflex II Cube kann über USB 3.0, Gigabit-LAN und Cabled PCI Express angesteuert werden.

- von skr
 
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