Tester, Prüfstände -

Von VXI zu PXI Aus Alt mach Neu

Während die Anforderungen an automatisierte Testsysteme (ATEs) im Halbleiterbereich in Bezug auf Prüfdurchsatz und Geschwindigkeit stetig wachsen und die Komplexität der zu testenden Halbleiter weiter zunimmt, zeigt dieser Beitrag exemplarisch anhand eines Halbleitertestsystems für Hall-Sensor-ICs, wie durch Retrofitting der Technologiewandel von VXI auf PXI gelingt und sich Produktivität und Wirtschaftlichkeit steigern lassen.

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