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Erhöhte Zuverlässigkeit von 3D-NAND-Flash-Speichern

Mit dem neuen Low-Power-SSD-Controller X1 führt Hyperstone auch das Ökosystem FlashXE eXtended Endurance ein. FlashXE umfasst Kalibrierungs-, Fehlerkorrektur- und -vermeidungs- sowie Refresh-Mechanismen, um die Zuverlässigkeit von NAND-Flash-basierten Speichersystemen zu steigern.

Ein Qualifikationsprozess charakterisiert jeden unterstützten Flash-Typ über seine Lebensdauer und bei unterschiedlichen Betriebstemperaturen. Diese Information wird in der Firmware implementiert und mit dem Controller bereitgestellt. Während des Betriebs stellt der Controller sicher, dass der Spannungspegel der Read-Out Circuits über die Lebensdauer des Flashs kontinuierlich angepasst wird. Darüber hinaus unternimmt der Controller weitere Schritte wie Dynamic Data-Refresh, Near-Miss ECC und Read-Disturb-Management, um Fehler zu vermeiden. Für den Fall, dass trotz der oben genannten Vorsichtsmaßnahmen Fehler auftreten, übernimmt die Fehlerkorrekturfunktion: Hierfür existieren zwei getrennte Module, von denen eines auf einem BCH-Code und das andere auf dem neuen Generalized Concatenated Code (GCC) mit Unterstützung für Softdecodierung basiert.

Das FlashXE-Featureset ist mit dem X1-Flash-Controller erhältlich. Dieser Strom sparender SSD-Controller ist für robuste NAND-Flash-basierte Speicherlösungen in industriellen Anwendungen ausgelegt.

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