Tester, Prüfstände -

Halbleitertestsystem verbessert

National Instruments stellt STS 2019 vor: die neue Version seines Halbleitertestsystems, die unter anderem Verbesserungen bei den Programmier- und Debugging-Abläufen, der Testausführungsgeschwindigkeit sowie der Paralleltest- und Gesamtanlageneffizienz bringen soll.

Anwender, die keinen Zugriff auf den Tester haben, können dem Anbieter zufolge in einer verbesserten Offline-Umgebung Testprogramme entwickeln. Weitere Neuerungen sind eine vereinfachte Treiberumgebung für die Programmierung von Duplikaten und eine breitere Unterstützung digitaler Scans. Darüber hinaus lassen sich mit der neuen Fehlerbehandlung schnell interaktive Messungen durchführen. Auch automatisierte Tests in Multisite-Anwendungen sind laut NI leicht zu debuggen, indem man die gewünschten Sites mit den Prüflingen und Pins auswählt.

STS 2019 erhöht den Testdurchsatz gegenüber seinem Vorgänger mithilfe von Instrumententreibern, die die Testausführung beschleunigen, und dank einer Thread-Verwaltung, welche die Paralleltesteffizienz steigern soll. Außerdem können Anwender von einer verkürzten Umstellungszeit zwischen verschiedenen Testerkombinationen profitieren.

www.elektronik-informationen.de/88020

Firmeninformationen
Weitere Beiträge zum Thema Tester, Prüfstände
Alle Artikel des Ressorts
Weitere Beiträge zum Thema Industrie, Automation
Alle Artikel des Ressorts
© elektronikinformationen.de 2019 - Alle Rechte vorbehalten