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Neue Methode zur Jitter-Analyse

Mit einer neuen Option für die Oszilloskope RTO und RTP ermöglicht es Rohde & Schwarz, Jitter in zufällige und deterministische Komponenten zu zerlegen und die Ergebnisse anzuzeigen. Die Option R&S RTO-/RTP-K133 verwendet hierzu einen analytischen Ansatz auf Basis eines parametrischen Signalmodells, das das Verhalten der zu testenden Schnittstelle vollständig charakterisiert.

Im Gegensatz zu herkömmlichen Methoden, bei denen die Daten auf einen bestimmten Satz an TIE-Messungen (Time Interval Error) reduziert werden, umfasst die neue Methode die vollständigen Eigenschaften des zu testenden Signals. Daraus resultieren konsistente Messdaten selbst bei kurzen Signalfolgen sowie bisher nicht verfügbare Informationen wie die Sprungantwort oder die Unterscheidung zwischen vertikalem und horizontalem periodischen Jitter.

Verschiedene Darstellungsformen bieten detaillierte Einblicke in die Daten. Dazu zählen synthetische Augendiagramme, Histogramme der einzelnen Jitter-Komponenten, Spektral- und Peak-Ansichten von periodischem Jitter und ein Badewannendiagramm zur Abschätzung der Bitfehlerrate.

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