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Testsockel für spurenloses Testen

Die Probe-Pins des neuen FPC/FFC-Testsockels von Yamaichi setzen an einem winzigen Punkt auf das Material auf und üben nur so viel Druck aus, dass eine sichere Verbindung hergestellt, das Material jedoch nicht verformt wird. Durch das senkrechte Aufsetzen der Pins entstehen keine Kratzer, Furchen oder Riefen und das DuT (Device Under Test) verlässt den Testsockel nahezu spurenlos.

Die Gehäuse werden aus PEEK und eloxiertem Aluminium gefertigt. Die einzeln geprüften Probe-Pins werden aus einer Beryllium-Kupfer-Legierung hergestellt und mit Nickel und Gold überzogen. Für spezielle Anforderungen können auch Pins mit anderen Oberflächen gefertigt werden. Yamaichi garantiert für jeden FPC/FFC-Testsockel bis zu 50 000 Steckzyklen. Der Testsockel kann auch an die Kundenbedürfnisse angepasst werden. Auf Wunsch wird die passende Leiterplatte mitgeliefert.

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