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21.11.2017

Schnellere Signalverarbeitung für Digitizer

Für seine Digitizer mit PCI-Express-Schnittstelle bietet Spectrum eine neue Option an, die eine schnellere Signalverarbeitung ermöglicht. SCAPP (Spectrum’s Access for Parallel Processing) verwendet den Prozessor einer Grafikkarte. von dar mehr

Zeit-/Frequenzstandard mit GPS-Abgleich
Bild: SI
10.08.2017

Zeit-/Frequenzstandard mit GPS-Abgleich

Mit dem FS740 bietet SI Scientific Instruments ein Zeit- und Frequenzsystem an, das je nach geforderter Stabilität mit einem TCXO, einem OCXO oder einem Rubidiumoszillator als Zeitbasis erhältlich ist. von dar mehr

Tragbares Oszilloskop decodiert Automotive-Busse
Bild: Rohde & Schwarz
14.07.2017

Tragbares Oszilloskop decodiert Automotive-Busse

Rohde & Schwarz ergänzt seinen Scope Rider um Trigger- und Decodier-Software für CAN-FD und SENT. Damit kann das tragbare Oszilloskop nach CAN und LIN jetzt zwei weitere Automotive-Bussysteme analysieren. von dar mehr

Boxcar-Mittelung für klare Signale
Bild: Spectrum
01.06.2017

Boxcar-Mittelung für klare Signale

Für seine modularen Digitizer hat Spectrum eine neue Funktion angekündigt. Die Boxcar-Mittelung reduziert hochfrequente Rauschanteile, um die Signalqualität zu verbessern. von dar mehr

Parallel und priorisiert prüfen
Bild: Toptest
07.05.2017

Entwicklung eines Zwölffach-Test- und -Programmieradapters

Parallel und priorisiert prüfen

Bei der ersten Version eines Testadapters für Minileiterkarten waren die Prüfer an ein rein sequenzielles Vorgehen gebunden. Mit dem Adapter 3.0 passen die jetzt autonomen Tests in eine parallele TestStand-Sequenz – zusammen mit der Priorisierung einzelner Sockets bedeutet das einen erheblichen Zeitvorteil. von ml mehr

Tastkopf und Decoder für Power-Integritätstests
Bild: Teledyne LeCroy
14.12.2016

Tastkopf und Decoder für Power-Integritätstests

Für seine High-Definition-Oszilloskope HDO8108 und HDO9404 bringt Teledyne LeCroy den aktiven Tastkopf RP4030 sowie einen SPMI-Decoder auf den Markt. Damit lassen sich netz- und batteriebetriebene Systeme testen, die digitale Powermanagement-ICs zur Steigerung der Effizienz verwenden. von dar mehr

Passiver Tastkopf für Millivolt-Messungen
Bild: Rohde & Schwarz
21.11.2016

Passiver Tastkopf für Millivolt-Messungen

Mit dem RT-ZP1X hat Rohde & Schwarz einen 1:1-Tastkopf für die Oszilloskope RTE und RTO vorgestellt, der bei 1 MΩ Eingangsimpedanz ein Eigenrauschen von unter 650 µV bietet. von dar mehr

2-Ampere-PXI-Relaismodul
Bild: Pickering Interfaces
23.05.2016

2-Ampere-PXI-Relaismodul

Das PXI-Relaismodul 40-100 von Pickering Interfaces ist mit 83 Umschaltern, sogenannten SPDT-Relais, ausgestattet. Es wurde eigens für Schaltanwendungen mit vielen Kanälen bei 2 A Schaltstrom konzipiert. von pat mehr

Universelle IC-Testsockel passen zu verschiedenen Gehäusetypen
Bild: Yamaichi
12.04.2016

Universelle IC-Testsockel passen zu verschiedenen Gehäusetypen

Yamaichi präsentiert die Testsockelserien IC561, IC564 und NP584 – als Universallösung, die bei allen QFN-, SON-, BGA-, und LGA-Gehäusen sowie bei CSP eingesetzt werden kann. von pat mehr

Testwerkzeug für  Schaltsysteme
Bild: Pickering Interfaces
07.02.2016

Testwerkzeug für Schaltsysteme

Bei Relaisausfall preiswert vor Ort reparieren. Schaltsysteme sind die Verbindungs­elemente zwischen Testeinrichtungen und Prüflingen. Sie können ausfallen: aufgrund von Abnutzung oder Programmierfehlern – oder wenn fehlerhafte Testobjekte angeschlossen wurden. Es besteht ein Bedarf an Analyseunter­stützung, um Fehler in Schaltsystemen zu finden. Dies ist aber ein schwer kalkulierbarer zusätzlicher Aufwand. von ml mehr

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Worin liegt der Schlüssel zum Design einer Leiterplatte, die auch in der Realität funktioniert? Diese Regeln sollten Sie berücksichtigen, um ein produzierbares, funktionierendes und zuverlässiges Board zu entwickeln. von ml mehr...

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Wie man unsichtbare Fehler findet

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Ausfallmechanismen aufgrund unbeabsichtigter geometrischer Anordnungen von Schaltungselementen sind kritisch für die Zuverlässigkeit eines Designs. Weil die traditionelle Entwurfsregelprüfung gefährdete Bereiche in komplexen Entwürfen nicht aufspüren kann, müssen Entwickler neue Techniken erlernen. von ml mehr...

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Radarsysteme messen Abstand, Geschwindigkeit und Winkel von Objekten in der nächsten Umgebung ebenso wie in hunderten Metern Entfernung. Mit einem einzelnen Sensorchip lassen sich deshalb unterschiedliche ADAS-Funktionen realisieren. von skr mehr...

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Kompakte Festfrequenz-DC/DC-Hochsetzregler, als Leuchtdioden-Konstantstromregler optimiert, lassen sich zur LED-Stromversorgung nutzen. So gelangen Sie mit wenigen externen Bauteilen zur Lösung. von ml mehr...

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Industriesteuerungen enthalten häufig keine A/D-Wandler mehr. Deshalb sind Stromsensoren mit Digitalausgang gefragt – sie sind vergleichsweise EMV-resistent und lassen sich einfach an neue Mikrocontroller anschließen. Dem Trend folgend, hat LEM digitale Versionen seiner Open-Loop Transducer vorgestellt. von ml mehr...

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